◆性能特點：
實現探針和樣品組合式移動掃描的商業化原子力顯微鏡。

采用三軸獨立閉環壓電平移式掃描台，實現大範圍高精度掃描。

三軸獨立式掃描，XYZ互不影響，非常適合三維材料及形貌檢測。

電動控製樣品移動台和升降台，可任意編程多點位置實現快速自動化檢測。

龍門架式掃描頭設計，大理石底座，真空吸附和磁性吸附式載物台。
馬達自動控製加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品。
高倍輔助光學顯微定位，實時觀測與定位探針以及樣品掃描區域。

閉環壓電掃描台無需非線性校正，納米表征和測量精度優於99.5%。

 ◆測量範圍及應用：

測量範圍：二維、三維、Z值、相位、表麵形貌、粗糙度、膜厚、形貌、相位。

應用：納米材料、石墨烯、薄膜、鈍化膜、短切玻纖複材、分子篩、TiO2、CrPS4（15）、CrPS4（16）、中空纖維膜絲、粗糙度測試、四氧化三鐵、M13-PBA等。

◆ 應用案例 Application Case