◆性能特點：
實現樣品保持不動，探針移動掃描的商業化原子力顯微鏡。

樣品尺寸、重量幾乎不受限製，特別適合超大的樣品檢測。

樣品台可拓展性強，非常便於進行多儀器聯用實現原位檢測。

電動控製樣品移動台和升降台，可任意編程多點位置實現快速自動化檢測。

龍門架式掃描頭設計，大理石底座，真空吸附和磁性吸附式載物台。
馬達自動控製加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品。
高倍輔助光學顯微定位，實時觀測與定位探針以及樣品掃描區域。

集成掃描器非線性校正用戶編輯器，納米表征和測量精度優於98%。

◆測量範圍及應用：

測量範圍：二維、三維、Z值、相位、表麵形貌、粗糙度、膜厚、形貌、相位。

應用：納米材料、石墨烯、薄膜、鈍化膜、短切玻纖複材、分子篩、TiO2、CrPS4（15）、CrPS4（16）、中空纖維膜絲、粗糙度測試、四氧化三鐵、M13-PBA等。

◆ 應用案例 Application Case